嘉合劲威:全自动IC测试系统,颠覆传统人工测试

2018-01-11 10:03 出处:其他 作者:佚名 责任编辑:zhanghuiwen

  内存条主要是由:DRAM、SPD、金手指、PCB组成的。

  而DRAM是内存条最重要的组成部分,是内存条的根本。DRAM即动态随机存取存储器。DRAM通过电容实现数据存储,且需要保持对电容的刷新。当DRAM的电容刷新出现问题时,DRAM就会丧失数据信息,内存条的性能就会出现问题。

  一根内存条的性能好坏往往取决于DRAM质量的的好坏。因此,在内存条生产制造过程当中,对DRAM芯片的测试是最重要的一个环节。

  但是在国内DRAM芯片测试设备还比较稀缺。而且国外先进的DRAM芯片测试设备的价格非常昂贵,动辄上千万人民币。

  因此在国内,许多内存条生产厂家为了减少DRAM芯片测试的成本都使用了最传统的DRAM芯片测试方法。

  传统的DRAM测试方法:

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  利用这个治具,模拟内存条进行测试。

  它的缺点非常明显:测试项目比较单一,仅仅测试DRAM是否具有正常使用的功能;人工操作,浪费大量人力,且容易出现DRAM损伤。

  落后的DRAM芯片测试方法和设备,严重影响了国产内存制造行业的发展。而先进的DRAM测试设备则价钱昂贵,且难以买到。

  近年来,国产内存正在快速发展。嘉合劲威作为世界知名内存条模组厂,在内存制造专业化的道路上已经走到了国内前列。

  2017年,深圳嘉合劲威自主研发了国产全自动DRAM芯片测试设备。

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  这台全自动DRAM芯片设备从硬件到软件全部为嘉合劲威自主研发,多项技术已经申请专利。

  嘉合劲威全自动DRAM芯片设备的优势是:

  1、全自动化代替人工。

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  全自动放料、收料,节约了大量的人力,也避免了人工操作可能带来的误测和芯片损坏。

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  设备有8个测试台,可同时测试。测试效率高。

  一台全自动DRAM芯片测试设备只需要一人操作。一人一机一小时的产量,相当于旧的测试方法多人1小时产量提升了不止5倍。

  2、对DRAM芯片的测试更加全面。

  嘉合劲威全自动DRAM芯片测试设备能够做到:基础测试、DC测试(开短路测试、漏电测试、IDD测试等等)、功能测试/模拟测试、速度测试、老化测试等等。

  3、测试更加灵活。每个测试台下面都有主板,是可以更换的。这使得该测试设备能够适用于更多不同类型的测试。

  嘉合劲威全自动DRAM芯片测试设备的测试能力几乎已经达到了DRAM封测厂的测试水准。如此完善、严谨、科学的DRAM芯片测试,有利于更好的保证内存条的质量。嘉合劲威在内存模组生产专业化的道路上又前进了一大步。

  而嘉合劲威也凭借着强悍的DRAM测试能力,正在逐步涉足DRAM封测行业。

  嘉合劲威独立自主研发国产全自动化DRAM芯片测试设备。这体现了,中国企业的创新能力,体现了中国人的创造力,也体现了中国人不屈、奋斗的精神。

  国内内存制造行业的发展存在着严重不足。这使得外国内存条长期在中国市场占据主流消费市场。而近年来,全球晶圆危机,外国内存条消费市场萎缩,消费市场渴望高性价比的内存条产品。这是国产内存条崛起的机会。

  正是看到了机会,正是了解到了市场的真正需求,嘉合劲威在短短几年时间通过不懈的努力,逐渐崭露头角,成为了国内为数不多的专业的内存模组制造商。

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