深入剖析金邦DBT高温老化测试对内存品质的影响

　　作为一名DIY玩家的您，是否也会经常遇到这样一种棘手的问题呢？帮朋友组装的一台电脑，起初用的好好的，可是1至3个月或半年之后，电脑就开始频繁的出现不定时蓝屏死机的现象。

　　想必遇到这样的问题，凭您多年的电脑维护经验，在排除了硬件与软件的变动因素之后，第一直觉就会考虑到是否是内存出现了问题。此时，多数DIY玩家都会按部就班的进行以下步骤的检修：拔下内存、清理机箱内部灰尘、用橡皮擦擦内存金手指、再插回内存、看看问题是否解决。

　　不过，遗憾的是，并不是所有由内存引发的电脑蓝屏事件都是因为灰尘堆积或金手指氧化造成的，而更多的是由于内存本身的颗粒体质老化造成的。

　　内存颗粒为何会老化？

　　众所周知，一条内存是由多颗内存颗粒组成的，而其中任何一颗IC颗粒出现了品质上的问题，都将影响内存的稳定性。尤其是一些假冒或杂牌内存厂商生产的内存产品，在采购时就选择了品质低劣的颗粒，而在生产内存时也保证不了对每颗IC颗粒进行有效的品质测试，导致同条内存IC颗粒的品质参差不齐，为后来的蓝屏死机埋下了“隐患”。

　　这样的内存在使用初期并不会表现出任何问题，可以正常的运行Windows系统和相关软件。但随着使用周期和连续运行时间的增加，内存使用时大量的数据交换会引起内存颗粒温度迅速上升，加之日久天长的灰尘堆积，使热量不能很快的散发出去。极易使一些品质差的IC颗粒加速老化，甚至导致该IC颗粒的热损坏。最终导致的结果有两种：1、由于颗粒老化，导致内存性能下降，一旦运行在高频率之时，就容易出现蓝屏死机现象；2、当系统和软件使用到热损坏的颗粒时，就有可能出现程序错误、读写错误等提示。而以上两种情况都将严重影响您的电脑的稳定性。

　　防“患”于未然

　　如何才可以防“患”于未然，避免以上问题的出现呢？最有效的方式，就是在内存出厂前就进行严格的烧机老化测试。何谓烧机老化？其实这一概念在电子相关零件及产品的可靠度工程中并不陌生。一般来说，此测试就是在产品出厂前针对性的提高环境工作温度和电压等进行仿真运行测试，其意义在于筛选并摒除体质较弱易衰老的产品或零件，进而提升产品整体质量和稳定性。

　　但遗憾的是，在DRAM内存界中，类似的烧机老化测试因人力、硬件及时间成本过高（平均每台DBT烧机老化测试机价值4000万美金）的原因，类似的制程只能被局限在门坎最高的工业或军用规格级别的内存上。而对于个人PC市场，仅传统的利用主板在常温下运行测试程序(例如:R.S.T. 或者MEMORY TEST) 进行简单测试。

　　这种测试方式，只能测试当时模块的状态，对于IC制程中所产生的瑕疵品无法验证。而内存模组的特性是在使用1-3个月后才会逐渐显现出问题，这也就是部分消费者在使用1-3个月后会发现产品效能逐渐衰退甚至无法使用的原因。

　　GeIL金邦DBT突破老化测试的窘境！

　　作为拥有雄厚技术实力的金邦科技，一直以成为中国服务最好的内存供应商作为自己长期努力的目标。为了给用户带来品质优秀、性能稳定的内存产品，金邦科技已投入巨资将高温老化技术正式引入内存制造过程中。

　　金邦的高温老化技术的相关技术和软硬件完全是由其自主研发，称之为DBT技术，也就是Die-Hard Burn-in Technology。由于是自主研发所以能发挥最大效益亦能最大化的运用在GeIL广泛的产品线量产制程中。

　　由上面的“内存条可靠度BATHTUB曲线图”我们可以了解到，内存的主要故障都出现在模块寿命周期开始和最后的1/10阶段。内存在寿命周期开始阶段出现的问题称为早衰期内故障。而DBT烧机老化技术就是通过由工作环境和电气性能两方面对内存模块进行苛刻的测试，迫使早衰期内故障不是在客户使用后的几个月才出现，而是缩短至内存出厂前的几小时出现。
 

高温可达摄氏100度/至少达24小时的高温测试

　　DBT启动后，GeIL研发的动态测试能针对温度、电压及电流提供最有效益的测试平台，捡选出最精良的模块筛选并摒除体质较弱易衰老的内存，提供客户最高质量的产品并提升客户满意度及信心，竖立标竿！GeIL金邦研发的DBT老化炉，客制化的controller母板上一次可容纳多达1000支的内存，同时进行高温可达摄氏100度，时间最长可达24小时的高温测试，捡选出最精良的模块。