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2012-11-19 00:15 出处:PConline原创 作者:Valest 责任编辑:liganlin

写入性能测试:

  写入性能测试考验芯片把硬盘数据传输到USB3.0设备上的速度,主要供有SSD移动硬盘或者高速U盘的用户参考。

USB3.0横评测试
AS SSD测试成绩

USB3.0横评测试
CrystalDisk测试成绩

USB3.0横评测试
ATTO测试成绩

USB3.0横评测试
平均成绩总结

  小结:写入测试成绩分化很明显,能够保住230以上速度的只有Z77、A85X、NEC和钰创,而德仪和威盛的表现则明显偏低,都在180左右,最佳与最差成绩差距差不多有70MB,也算够明显的了。

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